Interpretacja
Interpretacja indywidualna z dnia 16.10.2017, sygn. 0115-KDIT1-2.4012.601.2017.1.RS, Dyrektor Krajowej Informacji Skarbowej, sygn. 0115-KDIT1-2.4012.601.2017.1.RS
Brak możliwości odliczenia podatku naliczonego w związku z nabyciem wyposażenia infrastruktury badawczej w sytuacji, gdy nie dokonano zwrotu środków przeznaczonych na realizację projektu.
Na podstawie art. 13 § 2a, art. 14b § 1 ustawy z dnia 29 sierpnia 1997 r. Ordynacja podatkowa (Dz. U. z 2017 r., poz. 201, z późn. zm.) Dyrektor Krajowej Informacji Skarbowej stwierdza, że stanowisko Wnioskodawcy przedstawione we wniosku z dnia 7 sierpnia 2017 r. (data wpływu 29 sierpnia 2017 r.) o wydanie interpretacji przepisów prawa podatkowego dotyczącej podatku od towarów i usług w zakresie braku możliwości odliczenia podatku naliczonego w związku z nabyciem wyposażenia infrastruktury badawczej w sytuacji, gdy nie dokonano zwrotu środków przeznaczonych na realizację projektu - jest prawidłowe.
UZASADNIENIE
W dniu 29 sierpnia 2017 r. wpłynął do tutejszego organu ww. wniosek o wydanie interpretacji indywidualnej dotyczącej podatku od towarów i usług w zakresie braku możliwości odliczenia podatku naliczonego w związku z nabyciem wyposażenia infrastruktury badawczej w sytuacji, gdy nie dokonano zwrotu środków przeznaczonych na realizację projektu.
We wniosku przedstawiono następujący stan faktyczny.
Miasto X. (dalej: Wnioskodawca lub Gmina Miasto X) jest zarejestrowane jako czynny podatnik podatku od towarów i usług. Będąc podatnikiem VAT składa do właściwego urzędu skarbowego deklaracje VAT-7.
Wnioskodawca realizował projekt D.
Zakres rzeczowy projektu.
Zakres działań przewidzianych do realizacji w ramach projektu obejmował zakup i montaż specjalistycznego sprzętu laboratoryjnego na potrzeby nowo powstającego centrum badawczo-naukowego, C. oraz wyposażenie pomieszczeń i sal konferencyjnych XPT, stwarzając optymalne warunki dla przedsiębiorców korzystających ze wsparcia X. Parku Technologicznego, a mianowicie: długościomierz - 1 szt.; automatyzowane stanowisko do kontroli czujników MFP - 1 kpl; stanowisko do badań metali i analizy olejów - 1 kpl; mikroskop - 1 szt.; zestaw do przygotowania próbek metalograficznych - 1 kpl; mikrotwardościomierz do obciążeń 0,098-98,IN - 1 szt.; uniwersalny twardościomierz metodami Vickersa, Brinella, Rockwella 1 szt.; emisyjny spektrometr mobilny - 1 kpl; maszyna wytrzymałościowa - 1 kpl; wielokanałowy rejestrator temperatury - 1 szt.; meble laboratoryjne - 1 kpl; meble biurowe do wyposażenia biur laboratoriów - 1 kpl; meble na wyposażenie pomieszczeń dla korzystających z usług XPT - 1 kpl; zestaw komputerowy z osprzętem i oprogramowaniem - 22 kpl; sprzęt audiowizualny do projekcji telekonferencji - 3 kpl; zestaw do tłumaczeń symultanicznych 1 kpl.
-
keyboard_arrow_right
-
keyboard_arrow_right
-
keyboard_arrow_right
-
keyboard_arrow_right
-
keyboard_arrow_right