Wyrok WSA w Warszawie z dnia 7 stycznia 2005 r., sygn. II SA 2427/03

Wojewódzki Sąd Administracyjny w Warszawie, w składzie następującym: Przewodniczący sędzia WSA Grażyna Śliwińska Sędziowie WSA Magdalena Bosakirska (spr.) Asesor WSA Izabela Głowacka-Klimas Protokolant Jan Czamacki po rozpoznaniu na rozprawie w dniu 29 grudnia 2004 r. sprawy ze skargi Z. D. prowadzącego "A." D. na decyzję Urzędu Patentowego RP z dnia [...] kwietnia 2003r. nr [...] w przedmiocie odmowy unieważnienia patentu oddala skargę

Uzasadnienie

Zaskarżoną Decyzją z dnia [...] kwietnia 2003r. nr [...] Urząd Patentowy RP, działając w trybie spornym oddalił wniosek Z. D. prowadzącego "A." D.

o unieważnienie patentu nr PL 177856 pt. "Urządzenie do sprawdzania instalacji gazowej pojazdu samochodowego". Uprawnionym do tego patentu był K. S. Do wydania powyższej decyzji doszło w następującym stanie faktycznym i prawnym.

Decyzją z dnia [...] sierpnia 1999r. udzielono patentu nr 177856 pt. "Urządzenie do sprawdzania instalacji gazowej pojazdu samochodowego" na rzecz K. S. z pierwszeństwem od 25 maja 1995r. W zastrzeżeniach patentowych wskazano, że przedmiotem patentu jest :

1/ Urządzenie do sprawdzania instalacji gazowej pojazdu samochodowego, w którym pierwszy obwód do sprawdzania szczelności obudowy zaworów zbiornika zawiera pierwszy miernik ciśnienia połączony poprzez regulator ciśnienia i pierwszy zawór ze źródłem sprężonego powietrza, drugi obwód do sprawdzania zaworów zbiornika zawiera drugi miernik ciśnienia a trzeci obwód do sprawdzania parownika zawiera wskaźnik stanu czynnika , znamienne tym, że drugi obwód do sprawdzania zaworu nadmiernego wypływu połączony jest z jednej strony drugiego miernika końcówką przewodu drugiego obwodu z miejscem doprowadzania sygnału od sprawdzanego obiektu, korzystnie drugim krućcem, a z drugiej strony drugiego miernika poprzez drugi zawór w sposób ciągły ze zbiornikiem odbierającym czynnik, przy czym wszystkie obwody usytuowane są w jednej obudowie, a końcówki przewodów poszczególnych obwodów połączone są z miejscami doprowadzenia sygnałów od badanych obiektów, korzystnie krućcami, umieszczonymi na jednej ściance obudowy.