Wyszukaj po identyfikatorze keyboard_arrow_down
Wyszukiwanie po identyfikatorze Zamknij close
ZAMKNIJ close
account_circle Jesteś zalogowany jako:
ZAMKNIJ close
Powiadomienia
keyboard_arrow_up keyboard_arrow_down znajdź
idź
removeA addA insert_drive_fileWEksportuj printDrukuj assignment add Do schowka
description

Akt prawny

Akt prawny
obowiązujący
Dziennik Urzędowy Unii Europejskiej, L rok 2022 nr 20 str. 282
Wersja aktualna od 2022-01-07
Dziennik Urzędowy Unii Europejskiej, L rok 2022 nr 20 str. 282
Wersja aktualna od 2022-01-07
Akt prawny
obowiązujący
ZAMKNIJ close

Alerty

Sprostowanie do rozporządzenia delegowanego Komisji (UE) 2022/1 z dnia 20 października 2021 r. zmieniającego rozporządzenie Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) 2021/821 w odniesieniu do wykazu produktów podwójnego zastosowania (Dziennik Urzędowy Unii Europejskiej L 3 z dnia 6 stycznia 2022 r.)

Strona 142, załącznik, pkt 3B001.f otrzymuje brzmienie:

"f.

następujący sprzęt litograficzny:

1.

sprzęt do wytwarzania płytek elektronicznych poprzez pozycjonowanie, naświetlanie oraz powielanie (bezpośredni krok na płytkę) lub skanowanie (skaner), z wykorzystaniem metody fotooptycznej lub promieni rentgenowskich, spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów:

a.

źródło światła o długości fali krótszej niż 193 nm; lub

b.

zdolny do wytwarzania wzorów o 'rozmiarze minimalnej rozdzielczości wymiarowej' (MRF) 45 nm lub mniejszej;

Uwaga techniczna:

'Rozmiar minimalnej rozdzielczości wymiarowej' (MRF) obliczany jest według poniższego wzoru:

Image 1

gdzie współczynnik K = 0,35

2.

urządzenia do litografii nanodrukowej zdolne do drukowania elementów o wielkości 45 nm lub mniejszych;

Uwaga:

Pozycja 3B001.f.2. obejmuje:

-

narzędzia do mikrodruku kontaktowego,

-

narzędzia do wytłaczania na gorąco,

-

narzędzia do litografii nanodrukowej,

-

narzędzia do litografii "step-and-flash" (S-FIL).

3.

sprzęt specjalnie zaprojektowany do wytwarzania masek, spełniający wszystkie poniższe kryteria:

a.

posiadający odchylaną, zogniskowaną wiązkę elektronów, jonów lub wiązkę "laserową"; oraz

b.

spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów:

1.

apertura plamki dla szerokości piku w połowie jego wysokości poniżej 65 nm i umiejscowienie obrazu poniżej 17 nm (średnia + 3 sigma); lub

2.

nieużywane;

3.

błąd nakładania drugiej warstwy mniejszy niż 23 nm (średnia + 3 sigma) na maskę;

4.

sprzęt zaprojektowany do wytwarzania przyrządów wykorzystujący metody bezpośredniego nadruku i spełniający wszystkie poniższe kryteria:

a.

wykorzystujący odchylaną, zogniskowaną wiązkę elektronów; oraz

b.

spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów:

1.

minimalny rozmiar wiązki równy lub mniejszy niż 15 nm; lub

2.

błąd nakładania warstwy mniejszy niż 27 nm (średnia + 3 sigma);".

* Autentyczne są wyłącznie dokumenty UE opublikowane w formacie PDF w Dzienniku Urzędowym Unii Europejskiej.
Treść przypisu ZAMKNIJ close
Treść przypisu ZAMKNIJ close
close POTRZEBUJESZ POMOCY?
Konsultanci pracują od poniedziałku do piątku w godzinach 8:00 - 17:00